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課程名稱 |
應用電子學(含實驗)
APPLIED ELECTRONICS (WITH LABORATORY SESSION) |
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開課學期 |
98-2 |
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授課對象 |
工學院 機械工程學系 |
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授課教師 |
毛明華 |
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課號 |
ME2102 |
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課程識別碼 |
502 27100 |
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班次 |
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學分 |
3 |
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全/半年 |
半年 |
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必/選修 |
選修 |
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上課時間 |
星期三6,7,8(13:20~16:20) |
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上課地點 |
新403 |
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備註 |
電子電機知識領域選修
總人數上限：70人 |
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Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/982AE |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
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課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
Chap. 1 Semiconductor Materials and Diodes
Chap. 2 Diode Circuits
Chap. 3 Bipolar Junction Transistor
Chap. 4 Basic BJT Amplifier
Chap. 5 Field-Effect Transistor
Chap. 6 Basic FET Amplifier
Chap. 7 Ideal Operational Amplifier
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課程目標 |
本課程主要目的為使學生熟悉電子電路元件如二極體、場效應電晶體、雙極性電晶體、及運算放大器OPAMP之特性與應用。同時安排實驗課程，增加學生對真實電子電路的瞭解。 |
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課程要求 |
平時考40%、期末考30%、實驗30% |
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
每週一 13:30~14:30
每週三 14:00~15:00 備註： Prof.:Tuesdays, 14:00-16:00
TAs:黃昱瑋 (電二206) Mon.13:30~14:30
林銘祥 (電一303) Wed.14:00-15:00 |
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指定閱讀 |
Donald A. Neaman, “Microelectronics- Circuit Analysis and Design”, 4th ed., McGraw-Hill, 2010. |
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參考書目 |
Donald A. Neaman, “Microelectronics- Circuit Analysis and Design”, 4th ed.,
McGraw-Hill, 2010.
A. S. Sedra and K. C. Smith, Microelectronic Circuits, 5th Ed., Oxford
University Press, 2004. |
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評量方式
(僅供參考) |
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No. |
項目 |
百分比 |
說明 |
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1. |
平時考 |
40% |
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2. |
期末考 |
30% |
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3. |
實驗 |
30% |
共包括五個實驗(Exp.1~5)，由實驗助教規定實驗評分方式。 |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
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第1週 |
2/24 |
2/24（三） 因授課教師出國開會，本週暫停上課一次 |
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第2週 |
3/03 |
Chap. 1 Semiconductor Materials and Diodes |
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第3週 |
03/10 |
Chap. 1 Semiconductor Materials and Diodes |
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第4週 |
3/17 |
Chap. 1 Semiconductor Materials and Diodes |
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第5週 |
3/24 |
Chap. 2 Diode Circuits
3/25(Thu.)實驗一：VL、KCL 及Tellegen Theorem (地點：電機一館 R201；時間：ABC節) |
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第6週 |
3/31 |
Chap. 2 Diode Circuits |
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第7週 |
4/07 |
台大溫書假 |
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第8週 |
4/14 |
Quiz #1, 14:20-15:10, Chap1-Chap2.4.1, close book, using calculators without formula-storage funtions |
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第9週 |
4/21 |
Chap. 3 Bipolar Junction Transistor
4/22(Thu.)實驗二：雙極非線性元件特性曲線之簡單測量 (地點：電機一館 R201；時間：ABC節) |
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第10週 |
4/28 |
Chap. 3 Bipolar Junction Transistor |
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第11週 |
5/05 |
Chap. 4 Basic BJT Amplifier.
5/6(Thu.)實驗三：RC、RL、[RLC] 電路之步級響應 (地點：電機一館 R201；時間：ABC節) |
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第12週 |
5/12 |
Quiz #2, 14:20-15:10, Chap 3 BJT, close book, using calculators without formula-storage funtions.
Chap 4 BJT Amplifier. |
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第13週 |
5/19 |
Chap 4 BJT Amplifier.
5/20(Thu.)實驗四：BJT與MOSFET特性曲線的量測 (地點：電機一館 R405；時間：ABC節) |
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第14週 |
5/26 |
Quiz #3, Chap. 4 BJT amplifiers (up to Sec. 6.6 common-collector amplifier) |
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第15週 |
6/02 |
Chap 5 FET |
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第16週 |
6/09 |
6/10(Thu.)實驗五：運算放大器 (地點：電機一館 R201；時間：ABC節) |
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第17週 |
6/16 |
端午節(national holiday, no class) |
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第18週 |
06/23 |
期末考 final exam, partial Chap. 4 BJT amplifiers+Chap. 5 FET and Chap. 6 FET Amplifier (i.e. textbook sections from Sec. 6.7+Chap. 3 FET (excluding Sec. 3.6 JFET)+Chap. 4 FET Amp up to Sec. 4.7) |
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